Из литературных данных [11-14] следует, что за появление поверхностной сверхструктуры Si ( lll) - 5X5ответственна ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Кузнецов Ф.А. Процессы роста и синтеза полупроводниковых кристаллов и пленок Ч 2


Из литературных данных [11-14] следует, что за появление поверхностной сверхструктуры Si ( lll) - 5X5ответственна примесь золота. Однако подобная сверхструктура может быть обусловлена и другой примесью. Обнаружено, что на поверхности эпитаксиальных пленок кремния, выращенных в хлоридном процессе, как правило, возникала сс5х5 при первом кратковременном прогреве кристалла до 800 - 900 С, в то время как на поверхности подложек обычно такая структура не появлялась, в том числе и на образцах, легированных золотом до концентраций 1017 - 1018 см-3. Это обстоятельство позволило предположить, что в образовании сс5х5 существенную роль играет примесь, внесенная в процессе роста пленки, а именно в данном процессе наиболее вероятно, - хлор. Характерной особенностью поведения сс5 X 5 является различное время ее существования при 850 С, что зависит от скорости роста пленки кремния.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Из литературных данных [11-14] следует,  что за появление поверхностной сверхструктуры Si ( lll) - 5X5ответственна примесь золота.  Однако подобная сверхструктура может быть обусловлена и другой примесью.  Обнаружено,  что на поверхности эпитаксиальных пленок кремния,  выращенных в хлоридном процессе,  как правило,  возникала сс5х5 при первом кратковременном прогреве кристалла до 800 - 900 С,  в то время как на поверхности подложек обычно такая структура не появлялась,  в том числе и на образцах,  легированных золотом до концентраций 1017 - 1018 см-3.  Это обстоятельство позволило предположить,  что в образовании сс5х5 существенную роль играет примесь,  внесенная в процессе роста пленки,  а именно в данном процессе наиболее вероятно,  - хлор.  Характерной особенностью поведения сс5 X 5 является различное время ее существования при 850 С,  что зависит от скорости роста пленки кремния.