Выдержка из книги
Угай Я.А.
Практикум по химии и технологии полупроводников
Величина АУр в определяет заряд Q ss и плотность поверхностных состояний N ss после термополевого воздействия. Причины термополевой нестабильности системы металл - окисел - полупроводник связаны с дрейфом и перераспределением носителей заряда в окисле.