Выше было показано, что контраст магнитной записи поля дефекта зависит от намагниченности исследуемого объекта и ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Козлов В.С.
Техника магнитографической дефектоскопии
Выше было показано, что контраст магнитной записи поля дефекта зависит от намагниченности исследуемого объекта и магнитного режима работы ленты. В принципе для любого объекта можно выбрать режим намагничивания, при котором наблюдается наилучшее для магнитной записи соотношение между подмагни-чивающим полем, линеаризирующим режим работы ленты, и полем дефекта. Затем по вебер-амперной характеристике подобрать магнитную ленту, эффективно работающую в данном поле намагничивания. Однако набор лент принципиально ограничен.