На рис. 4 показана снятая с помощью электронного микроскопа выпавшая частица. При помощи просвечивающей микроскопии ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Майссела Л.N.
Технология тонких пленок Часть 2
На рис. 4 показана снятая с помощью электронного микроскопа выпавшая частица. При помощи просвечивающей микроскопии было показано, что выпавшие частицы являются кремнием и расположены главным образом по границам зерен. Поперечное растворение кремния под SiO2 в предельных случаях может вызвать короткое замыкание эмиттерных переходов.
