К высокоэнергетическим следует отнести спектры УФ отражения, рентгенографии, а также спектры электронографии на просвет. Они ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Литовченко В.Г.
Основы физики микроэлектронных систем металл-диэлектрик-полупроводник
К высокоэнергетическим следует отнести спектры УФ отражения, рентгенографии, а также спектры электронографии на просвет. Они являются главными при анализе структуры тонких диэлектрических пленок, обусловленной ближним и частично дальним порядком. Координационное число вычисляется по площади под максимумом: К.
