К высокоэнергетическим следует отнести спектры УФ отражения, рентгенографии, а также спектры электронографии на просвет. Они ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Литовченко В.Г. Основы физики микроэлектронных систем металл-диэлектрик-полупроводник


К высокоэнергетическим следует отнести спектры УФ отражения, рентгенографии, а также спектры электронографии на просвет. Они являются главными при анализе структуры тонких диэлектрических пленок, обусловленной ближним и частично дальним порядком. Координационное число вычисляется по площади под максимумом: К.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

К высокоэнергетическим следует отнести спектры УФ отражения,  рентгенографии,  а также спектры электронографии на просвет.  Они являются главными при анализе структуры тонких диэлектрических пленок,  обусловленной ближним и частично дальним порядком.  Координационное число вычисляется по площади под максимумом:  К.