Предполагают, что наблюдаемый эффект вызван более низким потенциалом ионизации щелочных металлов по сравнению с галогенами. ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Автор N.N.
Массопектрометрический метод определения следов
Предполагают, что наблюдаемый эффект вызван более низким потенциалом ионизации щелочных металлов по сравнению с галогенами. Аллард и Крулфельд ( 1967) высказали предположение, что основная причина этого явления заключена в форме существования элементов основы, которые присутствуют в твердом состоянии в виде положительных и отрицательных ионов. Согласно другому возможному механизму ионизации, под действием разряда с поверхности испаряются нейтральные молекулы галогенидов щелочных металлов, так как при средних температурах давление их паров велико. В газовой фазе ионная связь, существующая в нейтральной молекуле, легко разрушается. Ионы щелочного металла ускоряются и попадают в анализатор, в то время как для образования ионного тока галогена требуется значительно большая энергия, ибо сначала необходимо перевести отрицательные ионы в положительные. Второе необычное свойство спектров кристаллов галогенидов щелочных металлов, отмеченное Аллардом и Крулфельдом ( 1967), - высокое отношение однозарядных ионов к многозарядным для обоих элементов основы ( табл. 9.4); этот факт пока не имеет объяснения.