Данные электронографического измерения интегральных ннтенсивностей дебаевских рефлексов для поликристаллических пленок бромистого натрия использованы для построений ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Сирота Н.Н. Химическая связь в полупроводниках


Данные электронографического измерения интегральных ннтенсивностей дебаевских рефлексов для поликристаллических пленок бромистого натрия использованы для построений кривых атомного фактора рассеяния электронов Na и Вг. Проведена аппроксимация экспериментальных / - кривых аналитическими выражениями, полученными в приближении Слэтера. Найденные параметры аппроксимации использованы для вычисления зарядности атомов, а также для определения распределения потенциала в элементарной ячейке бромистого натрия.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Данные электронографического измерения интегральных ннтенсивностей дебаевских рефлексов для поликристаллических пленок бромистого натрия использованы для построений кривых атомного фактора рассеяния электронов Na и Вг.  Проведена аппроксимация экспериментальных / - кривых аналитическими выражениями,  полученными в приближении Слэтера.  Найденные параметры аппроксимации использованы для вычисления зарядности атомов,  а также для определения распределения потенциала в элементарной ячейке бромистого натрия.