Данные электронографического измерения интегральных ннтенсивностей дебаевских рефлексов для поликристаллических пленок бромистого натрия использованы для построений ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Сирота Н.Н.
Химическая связь в полупроводниках
Данные электронографического измерения интегральных ннтенсивностей дебаевских рефлексов для поликристаллических пленок бромистого натрия использованы для построений кривых атомного фактора рассеяния электронов Na и Вг. Проведена аппроксимация экспериментальных / - кривых аналитическими выражениями, полученными в приближении Слэтера. Найденные параметры аппроксимации использованы для вычисления зарядности атомов, а также для определения распределения потенциала в элементарной ячейке бромистого натрия.