При определении толщины пленок спектрофотометрическим методом [109, 111, 112] необходимо знать показатель преломления при одной ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Егер Э.N.
Методы измерения в электрохимии Том1
При определении толщины пленок спектрофотометрическим методом [109, 111, 112] необходимо знать показатель преломления при одной длине волны и иметь представление о степени однородности поверхностной пленки. Спектрофотометрический метод основан на определении длины волны, соответствующей интерференционному минимуму зеркального отражения при падении, близком к нормальному.
![При определении толщины пленок спектрофотометрическим методом [109, 111, 112] необходимо знать показатель преломления при одной длине волны и иметь представление о степени однородности поверхностной пленки. Спектрофотометрический метод основан на определении длины волны, соответствующей интерференционному минимуму зеркального отражения при падении, близком к нормальному.](/pic/1530481tOdQIbB0013215061.png)