Выдержка из книги
Иоффе Б.В.
Рефрактометрические методы химии
Распределение освещенности на вне-теневых участках плоскости z слабо зависит от разности хода лучей в средах I я II, и внетеневые максимумы А и А % могут служить реперами для оценки симметричности положения центральной полосы.
