Средства наблюдения за течением явления в низкомодульных материалах могут быть, таким образом, гораздо проще, чем ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Дюрелли А.N. Введение в фотомеханику


Средства наблюдения за течением явления в низкомодульных материалах могут быть, таким образом, гораздо проще, чем в высокомодульных. В табл. 5.12 приведены некоторые данные для ряда высокоскоростных фотокамер. За время экспозиции, равное 20 - Ю 6 сек, волна напряжений в уретановом каучуке распространяется на расстояние около 1 мм. С этим часто вполне можно мириться, так что камера Фастакс вполне пригодна для фотографирования картин полос при распространении волн деформаций. Авторы широко пользовались при своих исследованиях микровспышкой для фотографирования динамики картин полос. Микровспышка обычно применяется тогда, когда необходимо получить более точные результаты. Чтобы точнее обработать картины полос, полученные на низкомодульных материалах, необходимо знать их механические и оптические характеристики при различных скоростях деформаций. Ниже излагаются некоторые методы, применяющиеся для исследования этих свойств.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Средства наблюдения за течением явления в низкомодульных материалах могут быть,  таким образом,  гораздо проще,  чем в высокомодульных.  В табл. 5.12 приведены некоторые данные для ряда высокоскоростных фотокамер.  За время экспозиции,  равное 20 - Ю 6 сек,  волна напряжений в уретановом каучуке распространяется на расстояние около 1 мм.  С этим часто вполне можно мириться,  так что камера Фастакс вполне пригодна для фотографирования картин полос при распространении волн деформаций.  Авторы широко пользовались при своих исследованиях микровспышкой для фотографирования динамики картин полос.  Микровспышка обычно применяется тогда,  когда необходимо получить более точные результаты.  Чтобы точнее обработать картины полос,  полученные на низкомодульных материалах,  необходимо знать их механические и оптические характеристики при различных скоростях деформаций.  Ниже излагаются некоторые методы,  применяющиеся для исследования этих свойств.