Прежде всего будет рассмотрен процесс образования скрытого изображения в химически несенсибилизированных микрокристаллах. - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Хейнман А.С. Физические основы фотографической чувствительности


Прежде всего будет рассмотрен процесс образования скрытого изображения в химически несенсибилизированных микрокристаллах.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Прежде всего будет рассмотрен процесс образования скрытого изображения в химически несенсибилизированных микрокристаллах.