Потери на рассеяние зависят прежде всего от наличия в материале световода пузырьков, кристаллических включений и ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Шарупич Л.С. Оптоэлектроника


Потери на рассеяние зависят прежде всего от наличия в материале световода пузырьков, кристаллических включений и других технологических дефектов. При совершенной технологии, когда указанные дефекты устранены, остается рассеяние, вызванное неоднородностью плотности или состава материала по объему. Эти потери, определяющие теоретический нижний предел для световодов, близки к 0 7 дБ / км для кв арца ( при А-1 мкм) и несколько больше у многокомпонентных стекол.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Потери на рассеяние зависят прежде всего от наличия в материале световода пузырьков,  кристаллических включений и других технологических дефектов.  При совершенной технологии,  когда указанные дефекты устранены,  остается рассеяние,  вызванное неоднородностью плотности или состава материала по объему.  Эти потери,  определяющие теоретический нижний предел для световодов,  близки к 0 7 дБ / км для кв арца ( при А-1 мкм) и несколько больше у многокомпонентных стекол.