Нестабильность имеет широко распространенную частотную зависимость типа 1 / /, вызываемую двумя основными причинами - ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Шешин Е.П.
Структура поверхности и автоэмиссионные свойства углеродных материалов
Нестабильность имеет широко распространенную частотную зависимость типа 1 / /, вызываемую двумя основными причинами - на малых токах это флуктуации работы выхода, слабо зависящие от среднего тока. На больших токах это флуктуации микроструктуры эмигрирующей поверхности, вызванные пондеромоторными нагрузками и ионной бомбардировкой. Для этого процесса характерно быстрое уменьшение нестабильности с ростом тока для АЭК из изученных углеродных материалов количественно определены области преобладания каждого из названных механизмов нестабильности. Показано, что у таких катодов на вольт-амперной характеристике есть участок, когда рост тока связан с почти пропорциональным ему увеличением количества центров эмиссии. Экспериментально доказано, что в процессе формовки происходит увеличение количества близких по эмиссионным параметрам микровыступов и уменьшение уровня нестабильности тока.