В ближайшем будущем контрольное оборудование будет объединено с ЭВМ, что даст возможность быстро получать информацию ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Курносов А.И. Полупроводниковая микроэлектроника


В ближайшем будущем контрольное оборудование будет объединено с ЭВМ, что даст возможность быстро получать информацию о необходимых изменениях технологического процесса. Это позволит вносить коррективы в технологию раньше, чем будут изготовлены и зафиксированы новые дефектные образцы интегральных схем. Программа-максимум состоит в том, чтобы ЭВМ могла автоматически регулировать технологический процесс.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

В ближайшем будущем контрольное оборудование будет объединено с ЭВМ,  что даст возможность быстро получать информацию о необходимых изменениях технологического процесса.  Это позволит вносить коррективы в технологию раньше,  чем будут изготовлены и зафиксированы новые дефектные образцы интегральных схем.  Программа-максимум состоит в том,  чтобы ЭВМ могла автоматически регулировать технологический процесс.