В ближайшем будущем контрольное оборудование будет объединено с ЭВМ, что даст возможность быстро получать информацию ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Курносов А.И.
Полупроводниковая микроэлектроника
В ближайшем будущем контрольное оборудование будет объединено с ЭВМ, что даст возможность быстро получать информацию о необходимых изменениях технологического процесса. Это позволит вносить коррективы в технологию раньше, чем будут изготовлены и зафиксированы новые дефектные образцы интегральных схем. Программа-максимум состоит в том, чтобы ЭВМ могла автоматически регулировать технологический процесс.