При производстве интегральных схем статическая проверка полупроводниковых пластин до разрезки на кристаллы и герметизации служит ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Курносов А.И. Полупроводниковая микроэлектроника


При производстве интегральных схем статическая проверка полупроводниковых пластин до разрезки на кристаллы и герметизации служит для их своевременной отбраковки. Такая проверка обычно состоит из 30 - 40 контрольных операций, в ходе которых каждая интегральная схема автоматически подвергается воздействию различных комбинаций входных сигналов постоянного тока, позволяющих выявить как массовые, так и одиночные дефекты.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

При производстве интегральных схем статическая проверка полупроводниковых пластин до разрезки на кристаллы и герметизации служит для их своевременной отбраковки.  Такая проверка обычно состоит из 30 - 40 контрольных операций,  в ходе которых каждая интегральная схема автоматически подвергается воздействию различных комбинаций входных сигналов постоянного тока,  позволяющих выявить как массовые,  так и одиночные дефекты.