I рода - упругие напряжения, локализованные в макрообъемах образца или всего объема ( по смещению ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Федорченко И.М. Энциклопедия неорганических материалов Том2


I рода - упругие напряжения, локализованные в макрообъемах образца или всего объема ( по смещению интерференционных линий); изучать плотность хаотично расположенных дефектов упаковки ( это несовершенство влияет не только на ширину и форму линий, но и на угол отражения); оценивать смещение атомов из положения их равновесия в решетке, вызванное тепловыми колебаниями ( динамические искажения) или внедренными в решетку чужеродными атомами, а также пластической деформацией ( такие искажения решетки, паз. В методе монокристаллов также используется характеристическое рентгеновское излучение, по в нем, в отличие от метода поликристаллов и порошков, интерферирующих лучей оказывается мало, поэтому на рентгенограмме фиксируются не линии, а пятна. Если образец во время съемки вращать, то эти пята укладываются симметрично относительно вертикальной и горизонтальной линий, пересекающихся в центре фотопленки. Несколькими съемками неподвижного образца, снятого в различных положениях, находят полную ориентацию осей aj, а, и я3 решетки относительно рентгеновской камеры и направления первичного пучка рентгеновских лучей.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

I рода  -  упругие напряжения,  локализованные в макрообъемах образца или всего объема ( по смещению интерференционных линий);  изучать плотность хаотично расположенных дефектов упаковки ( это несовершенство влияет не только на ширину и форму линий,  но и на угол отражения);  оценивать смещение атомов из положения их равновесия в решетке,  вызванное тепловыми колебаниями ( динамические искажения) или внедренными в решетку чужеродными атомами,  а также пластической деформацией ( такие искажения решетки,  паз.  В методе монокристаллов также используется характеристическое рентгеновское излучение,  по в нем,  в отличие от метода поликристаллов и порошков,  интерферирующих лучей оказывается мало,  поэтому на рентгенограмме фиксируются не линии,  а пятна.  Если образец во время съемки вращать,  то эти пята укладываются симметрично относительно вертикальной и горизонтальной линий,  пересекающихся в центре фотопленки.  Несколькими съемками неподвижного образца,  снятого в различных положениях,  находят полную ориентацию осей aj,  а,  и я3 решетки относительно рентгеновской камеры и направления первичного пучка рентгеновских лучей.