Параметрами, подлежащими стандартизации, являются: радиус закругления иглы г, измерительное усилие Р, системы базирования и отсчета, ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Давыдов Б.С. Основы шупового метода определения шероховатости поверхности


Параметрами, подлежащими стандартизации, являются: радиус закругления иглы г, измерительное усилие Р, системы базирования и отсчета, отсечки шагов Вмакс, минимальный шаг неровностей, учитываемый при измерении на приборе Вмин и ряд других характеристик.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Параметрами,  подлежащими стандартизации,  являются:  радиус закругления иглы г,  измерительное усилие Р,  системы базирования и отсчета,  отсечки шагов Вмакс,  минимальный шаг неровностей,  учитываемый при измерении на приборе Вмин и ряд других характеристик.