Параметрами, подлежащими стандартизации, являются: радиус закругления иглы г, измерительное усилие Р, системы базирования и отсчета, ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Давыдов Б.С.
Основы шупового метода определения шероховатости поверхности
Параметрами, подлежащими стандартизации, являются: радиус закругления иглы г, измерительное усилие Р, системы базирования и отсчета, отсечки шагов Вмакс, минимальный шаг неровностей, учитываемый при измерении на приборе Вмин и ряд других характеристик.