При правильном приготовлении образцов для электронной микроскопии не следует забывать, что их следует выдерживать в ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Эйтель В.N. Физическая химия силикатов


При правильном приготовлении образцов для электронной микроскопии не следует забывать, что их следует выдерживать в условиях высокого вакуума, например при К) - 4 мм ртутного столба, и подвергать интенсивному локальному повышению температуры, вызван-ной бомбардировкой электронным лучом. В хорошем согласии с этими численными результатами Рюсс47 продемонстрировал тепловое воздействие электронного луча на вещество, например на взрывчатую окись графита; при нормальных условиях температура поднималась приблизительно до 270 С. Поэтому данный материал мог даже улетучиваться в высоком вакууме микроскопа, не оставляя никакого осадка, или превращаться в продукт вторичной реакции в форме псевдоморфозы.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

При правильном приготовлении образцов для электронной микроскопии не следует забывать,    что их следует выдерживать в условиях высокого вакуума,  например при К) - 4 мм ртутного столба,  и подвергать интенсивному локальному повышению температуры,    вызван-ной бомбардировкой электронным лучом.  В хорошем согласии с этими численными результатами Рюсс47 продемонстрировал тепловое воздействие электронного луча на вещество,  например на взрывчатую окись графита;  при нормальных условиях температура поднималась приблизительно до 270 С.  Поэтому данный материал мог даже улетучиваться в высоком вакууме микроскопа,  не оставляя никакого осадка,  или превращаться в продукт вторичной реакции в форме псевдоморфозы.