Из-за возможности отражения от кристаллографических плоскостей ясно, что только на основании степени почернения на электронных ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Лукьянович В.М. Электронная микроскопия в физико-химических исследованиях


Из-за возможности отражения от кристаллографических плоскостей ясно, что только на основании степени почернения на электронных микрофотографиях нельзя судить о толщине препарата. Один из приемов, который применяют для выяснения этого вопроса, состоит в том, что объект поворачивают относительно оси, перпендикулярной к пучку и проходящей через рассматриваемое место. Это позволяет сразу решить, является ли слой кристаллическим или аморфным; в последнем случае такой эффект наблюдаться не будет.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Из-за возможности отражения от кристаллографических плоскостей ясно, что только на основании степени почернения на электронных микрофотографиях нельзя судить о толщине препарата. Один из приемов, который применяют для выяснения этого вопроса, состоит в том, что объект поворачивают относительно оси, перпендикулярной к пучку и проходящей через рассматриваемое место. Это позволяет сразу решить, является ли слой кристаллическим или аморфным; в последнем случае такой эффект наблюдаться не будет.