Выдержка из книги
Сапожников Р.А.
Надежность автоматических управляющих систем
Полупроводниковые триоды очень часто оказывались причиной отказов АУС, хотя до установки в системы все они были исправными. До недавнего времени считалось, что единственной причиной отказа полупроводниковых триодов в процессе сборки и монтажа может быть только перегрев их во время пайки. В результате тщательных исследований [28] было выяснено, что, по-видимому, основной причиной выхода из строя полупроводниковых триодов в процессе монтажа ( помимо уже упомянутого перегрева во время пайки) является пробой под действием электростатического заряда. Источников возникновения статического заряда при монтаже может быть много, но опасность отказа возникает только тогда, когца есть сколь-нибудь существенная емкость, способная накапливать этот статический заряд.
![Полупроводниковые триоды очень часто оказывались причиной отказов АУС, хотя до установки в системы все они были исправными. До недавнего времени считалось, что единственной причиной отказа полупроводниковых триодов в процессе сборки и монтажа может быть только перегрев их во время пайки. В результате тщательных исследований [28] было выяснено, что, по-видимому, основной причиной выхода из строя полупроводниковых триодов в процессе монтажа ( помимо уже упомянутого перегрева во время пайки) является пробой под действием электростатического заряда. Источников возникновения статического заряда при монтаже может быть много, но опасность отказа возникает только тогда, когца есть сколь-нибудь существенная емкость, способная накапливать этот статический заряд.](/pic/34636946zE6Iu70012557965.png)