При рассмотрении направления кристаллографических плоскостей пользуются следующей системой обозначения. За основу принимается система трех осей, ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Ваграмян А.Т.
Физико механические свойства электролитических осадков
При рассмотрении направления кристаллографических плоскостей пользуются следующей системой обозначения. За основу принимается система трех осей, - параллельных ребрам элементарной ячейки решетки кристалла.
