Что же касается гетерогенных образцов, то здесь среднеквадратичные отклонения плотности поверхностного заряда, определенные по методу ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Литовченко В.Г.
Основы физики микроэлектронных систем металл-диэлектрик-полупроводник
Что же касается гетерогенных образцов, то здесь среднеквадратичные отклонения плотности поверхностного заряда, определенные по методу [515], обычно оказывались в 5 - 10 раз меньше.