Анализ зависимостей плотности пространственного заряда от времени в различных сечениях х хфикс диодного промежутка показал, ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Трубецков Д.И.
Лекции по сверхвысокочастотной электронике для физиков Том1
Анализ зависимостей плотности пространственного заряда от времени в различных сечениях х хфикс диодного промежутка показал, что характеристики колебаний ( спектр мощности, фазовый портрет, корреляционная размерность [33] и максимальный ляпуновский показатель [34]), рассчитанные по временным реализациям р ( жфикс, ), оставались постоянными с изменением координаты жфикс.
![Анализ зависимостей плотности пространственного заряда от времени в различных сечениях х хфикс диодного промежутка показал, что характеристики колебаний ( спектр мощности, фазовый портрет, корреляционная размерность [33] и максимальный ляпуновский показатель [34]), рассчитанные по временным реализациям р ( жфикс, ), оставались постоянными с изменением координаты жфикс.](/pic/4101730vlCRWVI0017387569.png)