Так же как и в методе электронного пучка, в этом методе точность целиком обусловлена параллельностью ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Грин М.N. Поверхностные свойства твердых тел


Так же как и в методе электронного пучка, в этом методе точность целиком обусловлена параллельностью характеристических кривых, и те же самые источники ошибок приводят к отклонениям от параллельности. Малейшие изменения геометрии диода, неоднородность нагрева катода могут привести к ошибкам того же типа. Изменения природы и распределения пятен на аноде как в условиях А, так и в условиях Б могут также привести к неприятностям. Диод не позволяет подавать на анод тормозящий потенциал, иначе попадание эмиттированных электронов на другие компоненты экспериментальной трубки приведет к заниженным значениям измеряемого тока, а следовательно, к нарушению параллельности. Несмотря на упомянутые недостатки, этот метод успешно использовался во многих экспериментах по определению контактной разности потенциалов. Однако он не дает достаточно надежного значения средней работы выхода.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Так же как и в методе электронного пучка,  в этом методе точность целиком обусловлена параллельностью характеристических кривых,  и те же самые источники ошибок приводят к отклонениям от параллельности.  Малейшие изменения геометрии диода,  неоднородность нагрева катода могут привести к ошибкам того же типа.  Изменения природы и распределения пятен на аноде как в условиях А,  так и в условиях Б могут также привести к неприятностям.  Диод не позволяет подавать на анод тормозящий потенциал,  иначе попадание эмиттированных электронов на другие компоненты экспериментальной трубки приведет к заниженным значениям измеряемого тока,  а следовательно,  к нарушению параллельности.  Несмотря на упомянутые недостатки,  этот метод успешно использовался во многих экспериментах по определению контактной разности потенциалов.  Однако он не дает достаточно надежного значения средней работы выхода.