Анализом причин выхода из строя интегральных микросхем при эксплуатации и испытаниях установлено, что на современном ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Ефимов И.Е.
Основы микроэлектроники
Анализом причин выхода из строя интегральных микросхем при эксплуатации и испытаниях установлено, что на современном этапе раз-вития микроэлектроники преобладают катастрофические отказы, обусловленные, главным образом, неотработанностью некоторых технологических операций при изготовлении отдельных элементов и интегральных микросхем в целом.