Анализом причин выхода из строя интегральных микросхем при эксплуатации и испытаниях установлено, что на современном ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Ефимов И.Е. Основы микроэлектроники


Анализом причин выхода из строя интегральных микросхем при эксплуатации и испытаниях установлено, что на современном этапе раз-вития микроэлектроники преобладают катастрофические отказы, обусловленные, главным образом, неотработанностью некоторых технологических операций при изготовлении отдельных элементов и интегральных микросхем в целом.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

 Анализом причин выхода из строя интегральных микросхем при эксплуатации и испытаниях установлено,  что на современном этапе раз-вития микроэлектроники преобладают катастрофические отказы,  обусловленные,  главным образом,  неотработанностью некоторых технологических операций при изготовлении отдельных элементов и интегральных микросхем в целом.