Измеряя зондовым методом время включения различных участков структуры, можно определить зависимость скорости распространения включенного состояния ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Евсеев Ю.А.
Силовые полупроводниковые приборы
Измеряя зондовым методом время включения различных участков структуры, можно определить зависимость скорости распространения включенного состояния от времени или расстояния от границы управляющего электрода.
