Автоион-нын микроскопический анализ - единственный метод анализа, позволяющий получать непосредственное изображение атомной плоскости кристалла с ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Федорченко И.М. Энциклопедия неорганических материалов Том2


Автоион-нын микроскопический анализ - единственный метод анализа, позволяющий получать непосредственное изображение атомной плоскости кристалла с увеличением порядка 10е, но объектом исследования должно быть очень тонкое острие металла. Дислокационную структуру в кристаллах изучают наблюдением индивидуальных дислокаций ( см. Фигур травления анализ, Электронномик-роскопический анализ, Рентгенотопо-графический анализ); сюда же относится метод декорирования дислокаций. Применяют также косвенные методы, основанные на влиянии дефектов решетки на различные физ.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Автоион-нын микроскопический анализ - единственный метод анализа, позволяющий получать непосредственное изображение атомной плоскости кристалла с увеличением порядка 10е, но объектом исследования должно быть очень тонкое острие металла. Дислокационную структуру в кристаллах изучают наблюдением индивидуальных дислокаций ( см. Фигур травления анализ, Электронномик-роскопический анализ, Рентгенотопо-графический анализ); сюда же относится метод декорирования дислокаций. Применяют также косвенные методы, основанные на влиянии дефектов решетки на различные физ.