Предложенный статистический метод анализа причин выхода из строя образцов полупроводниковых веществ и полупроводниковых приборов дает ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Божевольнов Е.А. Химические реактивы и препараты Выпуск 31


Предложенный статистический метод анализа причин выхода из строя образцов полупроводниковых веществ и полупроводниковых приборов дает возможность на основании накопленных экспериментальных данных выявить природу факторов, обусловливающих эти явления.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Предложенный статистический метод анализа причин выхода из строя образцов полупроводниковых веществ и полупроводниковых приборов дает возможность на основании накопленных экспериментальных данных выявить природу факторов,  обусловливающих эти явления.