Предложенный статистический метод анализа причин выхода из строя образцов полупроводниковых веществ и полупроводниковых приборов дает ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Божевольнов Е.А.
Химические реактивы и препараты Выпуск 31
Предложенный статистический метод анализа причин выхода из строя образцов полупроводниковых веществ и полупроводниковых приборов дает возможность на основании накопленных экспериментальных данных выявить природу факторов, обусловливающих эти явления.