Для кристаллических материалов с величиной кристаллов более 10 ft, вследствие крупности размеров кристаллов, линии на ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Выдержка из книги
Материалы Н.К.
Рентгеновские методы исследования и их применение в химической промышленности
Для кристаллических материалов с величиной кристаллов более 10 ft, вследствие крупности размеров кристаллов, линии на рентгенограммах распадаются на отдельные пятна, число которых пропорционально числу кристаллов в объеме, освещаемом пучком рентгеновских лучей. Простым подсчетом числа пятен на рентгенограмме можно установить число кристаллов и следить за его изменением в том или ином процессе, если величина кристаллов7 находится в пределах от 10 до 100 р, а при некотором видоизменении методики верхний предел может быть расширен вплоть до крупных монокристаллов. Этот метод был применен при исследовании процессов рекристаллизации сплавов. Знание зависимости числа кристаллов от температуры рекристаллизации для меди и латуни способствует раскрытию сложных процессов рекристаллизации. Обработка получаемых данных позволяет чисто рентгенографическим методом устанавливать такие важные характеристики, как скорость образования центров рекристаллизации и линейная скорость роста кристаллов.