Неустойчивость схемы вызвана инерционностью цепи обратной связи, связанной с низким быстродействием р-п-р-транзистора. - Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Большая Энциклопедия Нефти и Газа
Главная
Карта сайта
Поиск +
Поиск по рисункам
Помощь
Выдержка из книги Валиев К.А. Полупроводниковые интегральные схемы памяти на биполярных транзисторных структурах
Неустойчивость схемы
вызвана инерционностью цепи обратной связи, связанной с низким быстродействием р-п-р-транзистора.
(cкачать страницу)
Смотреть книгу на
libgen
Поделиться ссылкой: