Наибольшие ограничения спектрометрического метода связаны с тем, что выходная щель обычно много шире собственной ширины ... - Большая Энциклопедия Нефти и Газа



Выдержка из книги Терек Т.N. Эмиссионный спектральный анализ Том 2


Наибольшие ограничения спектрометрического метода связаны с тем, что выходная щель обычно много шире собственной ширины измеряемой линии. Ранее было показано, что это делается для того, чтобы устранить мешающие эффекты оптической нестабильности. Хотя это обстоятельство является достоинством при определении высоких концентраций ( см. выше), его следует рассматривать в качестве недостатка при определении следов элеменов. Другой недостаток с точки зрения определения следов элементов состоит в том, что на приборах обычной конструкции невозможно произвести точный учет фонового излучения. Следовательно, невозможно вычесть величну / ц из суммарной величины / / 1и и тем самым ввести поправку на фон. Вместо этого приходится последовательно определять величины ( It /) / / / - и lullr и затем вычислять / / / /, путем вычитания последней из первой величины. В противоположность этому в спектрографическом методе величины S / u и Su измеряются рядом в одном спектре. Измерения можно повторить в параллельных спектрограммах, и поэтому такой способ дает более точный учет фона. Однако в спектрографическом анализе главные погрешности обусловлены локальной неоднородностью фотопластинки.

(cкачать страницу)

Смотреть книгу на libgen

Наибольшие ограничения спектрометрического метода связаны с тем, что выходная щель обычно много шире собственной ширины измеряемой линии. Ранее было показано, что это делается для того, чтобы устранить мешающие эффекты оптической нестабильности. Хотя это обстоятельство является достоинством при определении высоких концентраций ( см. выше), его следует рассматривать в качестве недостатка при определении следов элеменов. Другой недостаток с точки зрения определения следов элементов состоит в том, что на приборах обычной конструкции невозможно произвести точный учет фонового излучения. Следовательно, невозможно вычесть величну / ц из суммарной величины / / 1и и тем самым ввести поправку на фон. Вместо этого приходится последовательно определять величины ( It /) / / / - и lullr и затем вычислять / / / /, путем вычитания последней из первой величины. В противоположность этому в спектрографическом методе величины S / u и Su измеряются рядом в одном спектре. Измерения можно повторить в параллельных спектрограммах, и поэтому такой способ дает более точный учет фона. Однако в спектрографическом анализе главные погрешности обусловлены локальной неоднородностью фотопластинки.