Cтраница 5
Контрастность изображения, получаемого в электронном микроскопе просвечивающего типа, как отмечалось выше, определяется различием в рассеивании электронов отдельными элементами объекта, отличающимися по толщине и плотности. [61]
Контрастность структуры по вышележащим комплексам становится еще меньшей, хотя ее размеры и основные черты строения сохраняются. Такое постепенное затухание структуры вверх по разрезу, по всей видимости, объясняется медленным и продолжительным ее ростом и постоянством его направленности. Это фиксируется и толщиной отложений отдельных частей разреза. Так на крутом крыле толщина пород пашийского горизонта увеличена почти в 4 раза по сравнению с их толщиной на своде. [62]