Cтраница 3
Под дефектом в узком смысле слова понимают нарушение сплошности материала или неоднородности, характеризующееся резким изменением его свойств. Обнаружение несплошностей с помощью СВЧ-излучений, как правило, возможно при размерах дефектов, соизмеримых с длиной волны колебаний в основном материале и с раскрывом антенн, или дефектов большей величины. Однако разрешающая способность при этом получается небольшой из-за того, что даже малые вариации толщины или электромагнитных свойств контролируемого объекта ( как от партии к партии, так и на разных участках в пределах одного объекта) приводят к появлению СВЧ-сигналов, превышающих сигналы от дефектов минимальных размеров, а часть полезной информации, содержащаяся в изменении фазы, может быть потеряна. Поэтому, чтобы получить высокую разрешающую способность аппаратуры к дефектам, обычно используют метод самосравнения. Для его реализации необходимо иметь два комплекта излучающих и приемных устройств ( см. § 4.9), размещаемых на близких участках контролируемого объекта. В этом случае выходной сигнал будет определяться разностью амплитуд и фаз сигналов почти от одинаковых участков объекта и при малом градиенте толщины и электромагнитных свойств по его длине, разрешающая способность аппаратуры существенно возрастает, так как дефект приводит к резкому изменению одного из сигналов. Выявляемый дефект с минимальными размерами при определенном режиме работы аппаратуры зависит от непостоянства толщины и электромагнитных свойств контролируемого объекта в направлении, в котором смещены комплекты излучательно-приемных устройств. С этой точки зрения необходимо располагать их максимально близко друг к другу, однако такое сближение затруднено затеканием СВЧ-токов из одного тракта в другой и взаимными наводками, а также касанием антенн. Кроме того, дефект или его края не должны одновременно попадать в зону контроля приемно-излучающих устройств. [31]