Контур - спектральная линия
Cтраница 2
На контур спектральной линии влияют также величина апертуры и аберрации объектива коллиматора, угловое увеличение призмы, наклон щели относительно преломляющего ребра призмы или штрихов дифракционной решетки, высота щели, величина апертуры и аберрации осветительной системы и другие факторы. [16]
 |
Влияние зернистости эмульсии и фотометрпруемой площади на вид микрофотограммы. [17] |
Если контур измеряемой спектральной линии очень узок ( речь идет об инструментальном контуре), то вообще трудно получить надежные результаты, так как при сужении выходной щели микрофотометра, с одной стороны, падает световой поток, достигающий фотоэлемента, с другой - уменьшается измеряемая площадка. То и другое приводит к возрастанию ошибки измерений. Поэтому для фотометрических измерений желательно, чтобы ширина щели спектрографа при съемке была по крайней мере в три раза больше нормальной. При этом можно рекомендовать выходную щель микрофотометра брать равной примерно половине ширины изображения спектральной линии. Соотношение контура спектральной линии и ширины щели микрофотометра будет тогда таким, как оно представлено на рис. 110 а. В том случае, когда соотношение инструментального контура и ширины щели микрофотометра будет таким, как оно представлено на рис. 110, в, измерения будут заведомо неверными. Это обстоятельство заставляет для количественных анализов пользоваться по возможности спектральными приборами с большой линейной дисперсией, которые дают возможность расширять щель при съемке, не опасаясь переложения спектральных линий. [18]
Форма контура спектральных линий определяется как физическими свойствами излучающего атома или молекулы, так и свойствами окружающей среды, например температурой плазмы, ее плотностью, природой окружающих частиц и др. Поэтому, зная истинный контур спектральных линий п пх шпрпну, можно сделать определенные заключения о физических процессах, происходящих в источнике излучения. [19]
Нахождение контура спектральных линий мы рассмотрим позже ( см. § 4.8), а сейчас остановимся на другой, часто встречающейся на практике задаче - определении относительной яркости спектральных линий конечной ширины. В этом случае оказывается достаточным найти лишь относительные освещенности в максимумах наблюдаемых контуров, причем эти максимумы для симметричных спектральных линий ( а таких большинство) совпадают с серединами наблюдаемых контуров. [20]
Вычисление контура спектральной линии с учетом всех возможных взаимодействий представляет собой крайне сложную задачу. По этой причине изучение эффектов давления целесообразно начать с рассмотрения максимально упрощенной модели. [21]
Если же контур спектральной линии не удается точно аппроксимировать известной функцией, то при определении Вп можно ограничиться конечными пределами интегрирования, в качестве которых обычно принимают Hl-кратную ширину линии. Возникающая ошибка зависит от формы контура. На практике обычно ограничиваются пределами 10 Ду. [22]
Для сканирования контура спектральной линии используется изменение давления газа в барокамере, в которой находится интерферометр Фабри-Перо. [23]
Расчет формы контура спектральной линии, излучаемой оптически плотным слоем, является одной из главных проблем теории переноса. [24]
Для записи контуров спектральных линий, излучаемых источниками света, применяемыми в эмиссионной спектроскопии, изменение давления от 1 6 - 2 атм до нормального оказывается достаточным, чтобы получить 3 - 5 интерференционных колец при расстоянии t Зч-4 мм. [25]
Для сканирования контура спектральной линии используется изменение давления газа в барокамере, в которой находится интерферометр Фабри-Перо. [26]
Экспериментальное изучение контуров спектральных линий в зависимости от концентрации нормальных атомов в плазме разряда позволяет установить, как формируется контур линии в источнике света. [27]
По форме контура спектральной линии находят отношение лорен-цовского и допплеровского уширений. Зная это отношение и измеряемую полуширину спектральной линии, определяют полуширину линии, обусловленную чисто допплеровским уширением, а по формуле (12.7) - температуру газа. Наиболее удобная аппаратура для осуществления этого метода основана на применении эталона Фабри - Перо. [28]
При исследовании контуров спектральных линий методами классической спектроскопии высокого разрешения применяется интерферометрическая установка, которая несколько трансформирует исследуемый спектр. [29]
Определение из контура спектральной линии всех изучаемых параметров должно производиться одновременно, так как они взаимно влияют на определение друг друга и поэтому изучаться по отдельности, строго говоря, не могут. Хотя это и возможно в отдельных благоприятных ситуациях, например, при хорошем разрешении компонентов или при невысокой требуемой точности. [30]
Страницы: 1 2 3 4