Коэффициент - отражение - материал
Cтраница 1
Коэффициент отражения материала зависит от его дисперсности, влажности, температуры, а также от спектральной характеристики излучателей. В определенных интервалах влажности отражательная способность значительно изменяется, а при некоторых значениях w остается неизменной. Установлено, что при одинаковой плотности лучистого потока интенсивность сушки для светлых излучателей меньше, чем для темных. [1]
В книге дается коэффициент отражения материала как функция длины волны, выраженный в процентах. [2]
 |
Отражение от пленок. [3] |
Френеля показывают, что при таких углах коэффициент отражения неметаллических полированных материалов близок к единице. [4]
Температура нагрева в месте воздействия лазерным лучом существенно зависит от коэффициента отражения материала. [5]
При использовании различных типов лазеров для обработки излучением следует учитывать, что коэффициент отражения материала, а следовательно, и доля поглощенной световой энергии зависят от длины волны лазерного излучения: чем короче длина волны излучения ОКГ, тем ниже отражательная способность металла и выше доля поглощенной световой энергии. Из табл. 1 следует, что большинство металлов плохо поглощают излучение СО2 - лазеров, имеющее длину волны 10 6 мкм. [6]
С точки зрения электромагнитной теории решетка будет иметь ту же эффективность, однако в этом случае необходимо еще учитывать уменьшение коэффициента отражения материала решетки при изменении длины волны. [8]
При измерениях космическая система размещается в центре экранированного помещения на специальной арматуре или подвешивается при помощи непроводящих растяжек. Коэффициент отражения материала, из которого изготовлена камера для безэховых измерений, в рабочем диапазоне частот не должен превышать 25 % ( - 12 дБ) от соответствующего значения для поверхно - - сти космической системы. Экранирование и фильтрация должны обеспечить в помещении уровень помех проводимости и излучения не менее чем на 6 дБ ниже порога чувствительности КИП. Все внешние кабели, соединяющие КИП и космическую систему, должны надежно экранироваться и подключаться у входа в камеру через фильтры или коаксиальные разъемы. В методиках измерений ЭМС и отчетах о результатах измерений должны быть отражены способы обеспечения связок с соответствующими чертежами и фотографиями. [9]
 |
Оптические свойства системы фоторезист - подложка ( Я40 ч - 600 Вт-с / м2. Кл - интегральный коэффициент отражения подложки. Гп - интегральный коэффициент пропускания фоторезиста. [10] |
Как видно из этого рисунка, фотографические характеристики слоя фоторезиста ( S, у, L) на различных подложках различны. Чем выше коэффициент отражения материала подложки, тем быстрее достигается максимальная скорость проявления, тем выше светочувствительность и фактор проявления, меньше фотографическая широта. [11]
Оптические свойства поверхности определяются спектральными коэффициентами отражения. Необходимая информация об угловой зависимости коэффициентов отражения материалов, используемых в качестве стенок канала, отсутствует. Кроме того, огневая поверхность канала подвержена в процессе работы МГД-генератора значительной эрозии. Это приводит к увеличению ее диффузных свойств, а также, возможно, к повышению степени черноты поверхности. В связи с этим предполагалось, что отражение от стенок носит диффузный характер с не зависящим от углов падения значением коэффициента отражения гш. [12]
УВ-30-П; эта длина определяется примерно в 40 см. При использовании более мощных ламп ( БУВ-30 или БУВ-бО-П) или нескольких источников длина лотка принимается равной длина источника, но в лотке устраиваются продольные направляющие перегородки, заставляющие поток циркулировать вперед и назад один или несколько раз, в зависимости от числа установленных перегородок. Ширина Ь определяется из условия достаточно полного использования источника излучения, определяемого коэффициентом отражения материала отражателя и углом отражателя с тр. [13]
 |
Световые потоки и световые отдачи. [14] |
Яркость присуща тем частям сцены, которые являются самосветящимися; типичные примеры - пламя свечи и лампа накаливания. В общем случае свет поступает в камеру после отражения от какой-либо поверхности. Вследствие того что на яркость отражающих предметов влияет много факторов, обычно минуя расчеты, измеряют яркость фотометром. При проектировании студий необходимо знать силу света типовых источников света и распределение их световых потоков, а также коэффициенты отражения типовых материалов, применяемых при изготовлении декораций и костюмов. [15]
Страницы: 1 2