Коэффициент - прозрачность
Cтраница 2
Что называется коэффициентами прозрачности и отражения потенциального барьера. [16]
Для структурных помех коэффициент прозрачности не зависит от толщины слоя. Это явление связано с тем, что в этом случае уровень структурных помех определяет не амплитуда, а интенсивность, пропорциональная энергии прошедшего импульса, которая равна произведению квадрата амплитуды на длительность импульса, а она остается практически постоянной при изменении условий интерференции в тонком слое. Если, например, коэффициент прозрачности уменьшается, то соответственно упадет амплитуда, но возрастет длительность импульса, таким образом, что энергия прошедшего через слой импульса остается постоянной. В результате электрический уровень структурных помех на экране ЭЛТ не зависит от толщины слоя контактной жидкости при контроле контактным методом. [17]
 |
К формированию структурных помех. [18] |
Для структурных помех коэффициент прозрачности слабее зависит от толщины слоя. Это связано с тем, что уровень структурных помех определяет не амплитуда, а интенсивность, пропорциональная энергии прошедшего импульса, которая равна произведению квадрата амплитуды на длительность импульса. Энергия меньше изменяется при изменении условий интерференции в тонком слое. [19]
 |
Изменение направления лучей с максимальными амплитудами преломленной и отраженной волн при падании продольной волны. [20] |
Экспериментальная кривая зависимости коэффициента прозрачности от угла падения волны удовлетворительно совпадает с теоретической. Это явление объясняется отличием падающей волны от плоской. [21]
В выражение для коэффициента прозрачности должно входить еще поглощение света в самом стекле. Но им можно пренебречь, так как эти потери не превышают 1 % на 1 см толщины стекла. [22]
Полученная выше величина коэффициента прозрачности потенциального барьера D имеет физический смысл вероятности для а-частицы пройти через потенциальный барьер. Для того чтобы связать эту величину с экспериментально определяемым значением постоянной распада К, надо учесть вероятность образования а-частицы внутри ядра ( в зависимости от его свойств) и скорость ее движения. [23]
Это означает, что коэффициент прозрачности по энергии равен произведению коэффициентов прозрачности по амплитуде в прямом D и обратном D направлениях. [24]
 |
Оптическая система упрощенного спектрофотометра с интерференционными светофильтрами.| Общий вид спектрофотометра. 1 2 - осветительная система. [25] |
Они дают возможность измерять коэффициенты прозрачности или оптической плотности, а также коэффициенты диффузного отражения для отдельных длин волн с точностью, не уступающей лучшим электрическим спектрофотометрам. [26]
 |
Произведение J D Ta для фотосопротивлений PbS. [27] |
Та, Т0 - коэффициенты прозрачности атмосферы и оптики соответственно, DQ - нормированная пороговая чувствительность приемника, см гц em 1, Xt, Х 2 - определяют спектральную область работы системы, мкм. [28]
 |
Дифракция волн на объемном ( а и плоском б дефектах. [29] |
Экспериментально полученная кривая зависимости коэффициента прозрачности от утла падения волны ( см. рис. 1.17) удовлетворительно совпадает с теоретической. [30]
Страницы: 1 2 3 4