Коэффициент - выявляемость
Cтраница 2
После определения t и ст из опытных данных строится теоретическая кривая распределения значений коэффициента выявляемости и сравнивается с экспериментальной. [16]
Поэтому для определения действительных размеров длины и высоты дефекта на основе коэффициентов выявляемости нужно вносить соответствующие поправки. Коэффициент выявляемости дефектов необходимо определять экспериментально. [17]
 |
Кривые распределения значений коэффициентов выявляемое для соединений на основе различных клеев. [18] |
Из рис. 6 - 13 видно, что теоретическая кривая и точки экспериментальных данных достаточно хорошо согласуются между собой. Это подтверждает предположение о распределении значений коэффициента выявляемости по нормальному закону. Кривая 2 ( рис. 6 - 13) построена по экспериментальным данным для соединений с прослойкой на основе клея ВК-32-200, склеенных при тщательном соблюдении всех технологических требований. И наоборот, для соединений на том же клее ВК-32-200 ( кривая 3), склеенных при явном нарушении технологического режима ( без открытой выдержки), математическое ожидание и дисперсия наибольшие. [19]
Найденную таким образом площадь плоскодонного отверстия называют эквивалентной площадью дефекта. Ее отношение к реальной площади дефекта называют коэффициентом выявляемости. Установлены приближенные значения этой величины для некоторых типов ОК. [20]
Полученные результаты заставляют подходить к вопросу контроля изделий с клеевыми соединениями дифференцированно. Для более обоснованного выбора степени жесткости контроля следует заранее провести тщательное изучение технологического процесса при серийном изготовлении контролируемых изделий и на основании результатов большого числа опытных данных по выявлению и определению действительного объема дефектов построить кривые распределения значений коэффициентов выявляемости. [21]
Амплитуда эхо-сигнала от дефекта в контролируемом изделии на экране изменяется в зависимости от физических свойств пьезоэлемента, условий согласованности пьезоэлемента с усилителем дефектоскопа и др. Поэтому размер амплитуды эхо-сигнала от дефекта в изделии носит не абсолютный, а лишь относительный характер. Действительный размер дефекта в изделии определяют как произведение эквивалентного размера на коэффициент выявляемости дефекта. [22]
Использование АРД-диаграммы позволяет определить размеры дефектов без применения эталонов. При этом необходимо знать коэффициент затухания ультразвука в контролируемом изделии. Обнаружив дефект, глубиномером измеряют глубину его залегания и аттенюатором - максимальную амплитуду сигнала от него. По найденным глубине залегания и амплитуде сигнала находят эквивалентный диаметр дефекта, а затем с помощью коэффициента выявляемости истинный размер обнаруженного дефекта. [23]
Коэффициент выявляемости может быть определен следующим образом. Обнаружив дефект, по глубиномеру определяют глубину его залегания и подбирают на соответствующем эталоне контрольный отражатель, расположенный на такой же глубине и дающий эхо-сигнал такой же амплитуды. Затем с помощью специального полого сверла ( трепана) с диаметром полости 20 мм или иным способом из контролируемого изделия высверливают цилиндр с таким расчетом, чтобы обнаруженный дефект полностью вписался в сечение этого цилиндра. Далее, в соответствии с показаниями глубиномера на цилиндре в плоскости залегания дефекта острым резцом наносится кольцевая риска, после чего цилиндр разрывается на машине для испытания на растяжение. Разрушение происходит по поверхности дефекта, который четко виден на изломе. Необходимо теперь измерить площадь поверхности дефекта. Фотографируется одновременно отверстие диафрагмы и плоскость изло-ма, в достаточно крупном масштабе изготовляется отпечаток ( если нужно - путем увеличения), который затем вырезается по контуру отверстия диафрагмы и взвешивается. После этого отпечаток обрезается уже по контуру изображения дефекта и вторично взвешивается. Измерив последнее, находят площадь дефекта, а разделив площадь контрольного отражателя на площадь дефекта, определяют коэффициент выявляемости. [24]
Страницы: 1 2