Cтраница 3
А - коэфициент поглощения, поглощатель-ная способность тела, доля излучения, поглощаемая телом; R - коэфициенг отражения, отражательная способность тела, доля излучения, отражаемая телом; D - коэфициент проницаемости, пропускная способность, доля излучения, проникающая сквозь тело. [31]
![]() |
Доля конвекции [ IMAGE ] - 4. Температура поверхности. [32] |
Из рис. 10 - 3 можно установить, что доля излучения возрастает также в условиях естественной конвекции с понижением плотности окружающей среды. [33]
При использовании в качестве источника света ртутной лампы некоторая доля излучения поглощается парами ртути в самом источнике света, что приводит к явлению обращения; только специально сконструированные ртутные лампы свободны от этого недостатка. Такие специальные источники света обычно заполняются посторонним газом при малом давлении паров ртути. [34]
Величина, которую необходимо вычислить, есть, следовательно, доля излучения, падающего в апертуру из направления 9, которая в конце концов отражается от апертуры в полусферу. [35]
![]() |
Естественные источники и поглотители теплоты. [36] |
Дж / ( см2 - мин); k - доля излучения, поглощенного атмосферой; а. Стефана - Больцмана, равная 5 67 - Ю-8 Дж / ( м2 - К4); е - эффективное излучение Земли; Т - средняя температура поверхности Земли, К. Множитель 5 / 4 используется здесь потому, что поток приходящего солнечного излучения должен быть осреднен за полные сутки и по всей площади поверхности Земли. [37]
Результаты измерений, представленные на рис. 5, показывают, что доля излучения в коэффициенте теплопроводности Ято сильно зависит от передачи теплоты теплопроводностью в твердой фазе. [39]
Излучение от радиоактивной пробы распространяется по всем направлениям, и некоторая доля излучения будет испускаться в направлении, почти параллельном пластинке. Когда детектор установлен стационарно и находится на незначительном расстоянии от пластинки, это излучение не регистрируется. Чем выше установлен детектор, тем больше потери, поэтому кажущаяся эффективность детектора уменьшается с высотой. В случае сканирования существует определенная вероятность, что излучение, испускаемое почти параллельно пластинке, попадает в чувствительный объем детектора в то время, когда детектор находится уже не над зоной; это приводит к возрастанию числа зарегистрированных импульсов. [40]
При дальнейшем увеличении интенсивности возбуждения роль кратковременных процессов будет возрастать, а доля излучения, приходящаяся на длительное свечение, будет уменьшаться. [41]
![]() |
Излучение от элемента плоскости dF к прямоугольнику, расположенному над ним.| Излучение между двумя параллельными плоскостями, расположенными друг против друга. [42] |
На другой черной поверхности F2 выделим элемент площади dF2, воспринимающий некоторую долю излучения с элемента dfi. [43]
![]() |
ВАХ фотодиода ( а и его структурная схема ( б. [44] |
Здесь S - площадь светоприемной поверхности; cdw - безразмерный коэффициент, характеризующий долю излучения, поглощаемого в базе. [45]