Cтраница 5
Высокие требования предъявляются к зажимам для крепления образца. Если образец плохо закреплен в зажимах, это приводит к перемещению его в зажиме и потере энергии на трение. Вторым источником потерь является работа, затраченная на выброс подвижного зажима с остатками образца, поэтому масса поперечины строго нормируется: при запасе энергии маятника до 4 Дж применяется поперечина массой 15 или 30 г; при запасе энергии от 4 до 1 5 Дж масса поперечины должна составлять 30 или 60 г и при более значительных запасах энергии - 60 или 120 г. Поперечина должна быть изготовлена из такого материала, в котором при ударе не возникает пластических деформаций. Энергию, затраченную на выброс, определяют в ходе холостых испытаний без образца. [61]
На рис. 2 6 показано приспособление для крепления образцов, которое укреплено на верхней Крышке прибора РИУ-2М. Датчики к образцу прижимаются с одинаковым усилием пружиной. Такая конструкция приспособления не требует дополнительного крепления образцов, как это предусмотрено в других устройствах. [62]
![]() |
Модифицированный шарнирный четырехзвенник. [63] |
При условии, что жесткость выступов для крепления образца достаточна, это приспособление свободно от всех недостатков, присущих стандартному шарнирному Четырехзвеннику. Поэтому оно показано на рисунке с подробностью, достаточной для воспроизводства. Приспособление дает удовлетворительные результаты при испытаниях стеклопластиков и высокомодульных армированных пластиков с разной укладкой арматуры и позволяет определять прочность при сдвиге относительно жестких пластин; в случае испытания тонких пли менее жестких пластин наблюдается выпучивание рабочей ЧРСТИ образца. [64]
Для осуществления сканирования была несколько реконструирована система крепления образцов в ионном источнике. Образец закреплялся в держателях и имел возможность перемещаться перед выходной щелью ионного источника под утлом 45 к его плоскости; сканирующий электрод размещали перпендикулярно к плоскости образца ( см. рис. 2.6) - при таком расположении электродов экранирование ионного тока минимально. [65]
На рис. 63, б показана схема крепления образца / в приспособлении 2, установленном в вакуумной камере. Образец закрепляется затяжением болтов, проходящих через отверстие в головках образца. При этом зубцы приспособления внедряются в головки образца ( рис. 63, б), предотвращая продольное смещение его в процессе испытания. [67]