Кривая - почернение
Cтраница 2
 |
Определение интенсивности линий и фона. [16] |
Нахождение интенсивности линии начинают с построения кривой почернения. [17]
Чтобы найти f, нужно строить кривую почернения для каждой фотопластинки. Таким образом, в методе контрольного эталона предполагается, что на каждой пластинке имеется один снимок со ступенчатым ослабителем и по крайней мере два снимка контрольного эталона. [18]
Наибольшая потеря плотности наблюдается в средней части кривой почернения при совпадении экспериментальных и расчетно-теоретических данных Кляйна. [19]
Численная величина / сильно зависит от характера кривой почернения в области недодержек, где ошибки в определении положения отдельных точек кривой обычно возрастают. Поэтому при определениях / целесообразно предварительно производить усреднение результатов нескольких параллельных сенситометрических опытов. [20]
Число поверхностных атомов серебра, соответствующее излому кривой видимого почернения, сравнивалось с числом ионов ре-щетки, находящихся на поверхности микрокристалла. [21]
Определения относительной интенсивности двух линий проводят по известной кривой почернения. [22]
В этом случае нет необходимости строить всю кривую почернения, - достаточно иметь лишь две ее точки, определяющие ее прямолинейный участок, и интерполировать между ними. Интерполяцию можно осуществить как графически так и аналитически. [23]
 |
Зависимость магнитной проницаемости от содержания углерода в стали. [24] |
Правильная экспозиция рентгеновской пленки должна соответствовать прямолинейному участку кривой почернения. Контрастность зависит от длины волны излучения, плотности и толщины просвечиваемого материала и рассеянного излучения. Оно уменьшается при увеличении жесткости излучения. [25]
Решающее значение имеют также свойства фотоматериала ( крутизна кривой почернения), на котором регистрируется дифракционная картина. Интенсивность освещения щели подбирается таким образом, чтобы при данной экспозиции нежелательные посторонние максимумы имели интенсивность ниже порога чувствительности фотоматериала. [26]
 |
Зависимость магнитной проницаемости от содержания углерода в стали. [27] |
Правильная экспозиция рентгеновской пленки должна соответствовать прямолинейному участку кривой почернения. Контрастность зависит от; длины волны излучения, плотности и тол - щины просвечиваемого материала и рассе -; янного излучения. Оно уменьшается при увеличении жесткости излучения. [28]
 |
Зависимость магнитной проницаемости от содержания углерода в стали. [29] |
Правильная экспозиция рентгеновской пленки должна соответствовать прямолинейному участку кривой почернения. Контрастность зависит от длины волны излучения, плотности и толщины просвечиваемого материала и рассеянного излучения. Оно уменьшается при увеличении жесткости излучения. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5