Большая Энциклопедия Нефти и Газа

Если из года в год тебе говорят, что ты изменился к лучшему, поневоле задумаешься - а кем же ты был изначально. Законы Мерфи (еще...)

Кристалл - фтористый литий

Cтраница 2

Интересны данные об изменениях не-которых свойств и параметров ионных кристаллов под действием излучений. Так, при облучении электронами расши - 20 рение кристалла фтористого лития дости - g гало 0 12 %, а хлористого калия 0 001 %, - что следует признать значительным.  [16]

Схема промышленного инфракрасного анализатора.  [17]

Так как материала, одинаково хорошо пропускающего все лучи, нет, то применяют окна и призмы из разных материалов для разных диапазонов длин волн. Так, для диапазона от 2 5 до 6 мк используется кристалл фтористого лития, от 6 до 16 мк - хлористого натрия и от 18 до 25 мк - бромистого калия. Промышленные инфракрасные автоматические анализаторы для непрерывного контроля состава газов отличаются от лабораторных. В промышленных анализаторах не применяют развертки спектра, а используют разность интенсивностей интегральной радиации до и после прохождения лучей через образец.  [18]

Дислокации, образовавшиеся в процессе роста, неподвижны, так как они закреплены примесями. Поэтому необходимо было ввести сначала свежие дислокационные полупетли в образец - призму, выколотую из кристалла фтористого лития.  [19]

Геометрия фокусирующей рентгеновской спектральной аппаратуры. а метод Кошуа, б метод Дю-Монда, в метод Иоганна, г метод Иоганссона. и - источник излучения, s - щель, К - кристалл-анализатор, О - центр окружности, пс к-рой изогнут кристалл, F - фокус для лучей одной длины волны, / - фокальная окружность, О - ее центр, D - детектор. Штриховка кристалла показывает направление отражающих атомных плоскостей.| Геометрия рентгеновского спектрометра с плоским кристаллом по Соллеру. S - источник излучения, К - кристалл-анализатор, D - детектор, С г и С. - многопластип-чатыс коллиматоры.  [20]

А н а л п з а т о р ы рентгеновского и з-л у ч е н и я [ 1,2] служат для его разложения в спектр. Для исследования спектров применяют кристаллы кварца, кальцита, гипса, слюды; для рентгеносиект-ралыюго анализа чаще всего используют кристаллы фтористого лития, ADP, EDDT, слюды.  [21]

Эти два максимума соответствуют днффракционным изображениям первого порядка, полученным с помощью решетки. Длина волны, связанной с атомами гелия, может быть подсчитана, если использовать известное расстояние между атомами в кристалле фтористого лития, а также положение диффракционных изображений первого порядка.  [22]

Это соотношение де Бройля пригодно во всех случаях, к какому бы сорту частиц оно ни применялось. На рис. 33.15 показана четкая картина, которую они дают при отражении от молекулярной решетки, начерченной природой ка поверхности кристалла фтористого лития.  [23]

Трудно также получить достаточно монохроматический атомный или молекулярный пучок. Тем не менее получена достаточно четкая дифракционная картина атомов гелия ( рис. 2.8) и молекул водорода ( рис. 2.9) от кристалла фтористого лития. Полученные результаты подтверждают пригодность формулы де Бройля для сложных ( составных) частиц.  [24]

Трудно также получить достаточно монохроматический атомный или молекулярный пучок. Тем не менее получена достаточно четкая дифракционная картина атомов гелия ( рис. 2.8) и молекул водорода ( рис. 2.9) от кристалла фтористого лития.  [25]

На основании опытов Фриша п Штерна [ 43J, изучавших диффрашщю, он приходит к выводу, что атомы гелия, адсорбированные на кристалле фтористого лития, обладают двумя квантованными вибрационными уровнями энергии для колебаний, перпендикулярных к поверхности, энергия которых - 57 5 и - 129 кал [ моль. Более низкий уровень определяет теплоту адсорбции.  [26]

Девоншайр [42] разработал теорию диффракции и отражения молекулярных лучей от твердых поверхностен. На основании опытов Фриша и Штерна [ 4з ], изучавших диффракцию, он приходит к выводу, что атомы гелия, адсорбированные на кристалле фтористого лития, обладают двумя квантованными вибрационными уровнями энергии для колебаний, перпендикулярных к поверхности, энергия которых - 57 5 и - 129 кал. Более низкий уровень определяет теплоту адсорбции.  [27]

Приведенные соображения относятся ко второму участку кривой упрочнения, соответствующему накоплению дислокаций при одноосном нагружении образца. Следует заметить, что движение дислокаций в плоскости скольжения отличается значительной неравномерностью. Как показали опыты Гилмана и Джонстона [92], проведенные с кристаллами фтористого лития, смещение плоскостей кристаллической решетки развивается, начиная от первоначального источника, причем развитие деформации происходит очень неравномерно.  [28]

Так, на рис. 308 показано расширение дислокационной петли в кристалле КВг, которое произошло под действием мгновенной нагрузки 700 гс / мм3 ( 7 - 10е Па) в течение 5 - 10 - 5 с. По фигурам травления можно наглядно проследить за образованием и движением дислокаций в процессе пластической деформации. На рис. 309 видна звезда фигур травления на грани ( 100) кристалла фтористого лития, образовавшаяся около того места, где на грань кристалла действовала сосредоточенная нагрузка.  [29]

При исследовании под оптическим микроскопом не было обнаружено заметного переползания дислокаций. Это свидетельствует о том, что образование центров окрашивания не сопровождается переползанием дислокаций. Такие же результаты были получены Шюллером) на кристаллах фтористого лития при наблюдении реплик в электронном микроскопе.  [30]

Страницы:      1    2    3