Кристаллооптика

Cтраница 2

Должен знать: основы физической химии и кристаллооптики; методы и технические условия проведения кристаллооптических анализов; основные свойства электролита, глинозема, боксита, криолита, хлористого кальция, фтористого алюминия, применяемых солей, реактивов и кислот; правила обращения с реактивами и кислотами и правила изготовления шлифов; устройство микроскопов, шлифовальных станков, тигельных печей, сушильных шкафов, электроприборов, аналитических и технических весов; методы контроля правильности проведения анализов; правила обращения с платиновой посудой и взвешивания на аналитических и технических весах; порядок записи проведенных анализов. [16]

Несовпадение направлений Е и D имеет для кристаллооптики чрезвычайно важное значение, выясняемое дальше. [17]

Должен знать: основы физической химии и кристаллооптики; методы и технические условия проведения кристаллооптических анализов; основные свойства электролита, глинозема, боксита, криолита, хлористого кальция, фтористого алюминия, применяемых солей, реактивов и кислот; правила обращения с реактивами и кислотами и правила изготовления шлифов; устройство микроскопов, шлифовальных станков, тигельных печей, сушильных шкафов, электроприборов, аналитических и технических весов; методы контроля правильности проведения анализов; правила обращения с платиновой посудой и взвешивания на аналитических в технических весах; порядок записи проведенных анализов. [18]

Должен внать: основы физической химии и кристаллооптики; методы я технические условия проведения кристаллооптических анализов; основные свойства электролита, глинозема, боксита, криолита, хлористого кальция, фтористого алюминия, применяемых солей, реактивов и кислот; правила обращения с реактивами и кислотами и правила изготовления шлифов; устройство микроскопов, шлифовальных станков, тигельных печей, сушильных шкафов, электроприборов, аналитических и технических весов; методы контроля правильности проведения анализов; правила обращения о платиновой посудой и взвешивания на аналитических и технических весах; порядок ваписи проведенных анализов. [19]

Должен знать: основы физической химии и кристаллооптики; методику и технические условия проведения кристаллооптических анализов; основные свойства электролита, глинозема, боксита, криолита, хлористого кальция, фтористого алюминия, применяемых солей, реактивов и кислот; правила обращения с реактивами и кислотами и изготовления шлифов; устройство микроскопов, шлифовальных станков, тигельных печей, сушильных шкафов, электроприборов, аналитических и технических весов; методы контроля правильности проведения анализов; правила обращения с платиновой посудой и взвешивания на аналитических и технических весах; порядок записи проведенных анализов. [21]

Должен знать: основы физической химии я кристаллооптики; методы и технические условия проведения кристаллооптическнх анализов; основные свойства электролита, глинозема, боксита, криолита, хлористого кальция, фтористого алюминия, применяемых солей, реактивов и кислот; правила обращения в реактивами в кисло та ми в правила изготовления шлифов; устройство микроскопов, шлифовальных станков, тигельных печей, сушильных шкафов, электроприборов, аналитических и технических весов; методы контроля правильности проведения анализов; правила обращения а платиновой посудой и взвешивания на аналитических и технических весах; порядок еаписи проведенных анализов. [22]

Должен знать: основы физической химии и кристаллооптики; методы в технические условия проведения кристаллооптвческих анализов; основные свойства электролита, глинозема, боксита, криолита, хлористого кальция, фтористого алюминия, применяемых солей, реактивов в кислот; правила обращения в реактивами в кисло - 1амв в правила изготовления шлифов; устройство микроскопов, шлифовальных станков, тигельных печей, сушильных шкафов, электроприборов, аналитических и технических весов; методы контроля правильности проведения анализов; правила обращения е платиновой посудой в взвешивания на аналитических и технических весах; порядок записи проведенных анализов. [23]

Определение направлений оптических осей с помощью эллипсоида Френеля или эллипсоида индексов. [24]

Лишь позднее, когда Френель развил свою кристаллооптику, открытие Брюс-тера стало, наоборот, одним из блестящих подтверждений волновой системы взглядов. [25]

Материал первой главы предусматривает знание основ кристаллографии и кристаллооптики и владение их основными методами исследования, с которыми можно ознакомиться по приведенным в списке литературы руководствам М. Н. Годлевского ( 1938), Г. М. Попова и И. И. Шафрановского ( 1964), В. Б. Татарского ( 1949) и др. Сведения по кристаллографии и кристаллооптике, имеющиеся в некоторых руководствах по микрохимическому анализу, очень конспективны и, к сожалению, не лишены ошибок. [26]

Широко используются физико-химические методы анализа: микрокристаллоскопия с кристаллооптикой, колориметрия, фото-электроколориметрия, спектрофотометрия, электродиализ и электрофорез, различные виды хроматографии. [27]

Напряженную решетку обычно нельзя отличить по рентгенограммам или методом кристаллооптики от соответствующей ненапряженной решетки. Для описываемой ситуации характерно наблюдение кажущегося полиморфного превращения между как будто идентичными кристаллическими фазами. Чтобы полностью понять это явление, необходимо более глубокое изучение; в настоящее время напряжения относятся к явлениям, которые можно ошибочно принять за полиморфизм. [28]

Примерами, представляющими наибольший интерес, здесь являются уравнения кристаллооптики, рассмотренные в § 5, и уравнения колебаний анизотропно упругого тела, обладающие аналогичными свойствами. [29]

Изложенное в предыдущих параграфах показывает, что решение задач кристаллооптики можно свести к построению некоторых вспомогательных поверхностей. Разумеется, все вспомогательные поверхности связаны между собой, так что знание одной из них позволяет более или менее сложным путем найти и остальные. Тем не менее применение различных поверхностей может оказаться полезным при разборе отдельных конкретных задач, решения которых особенно просто удается найти путем обсуждения свойств подходящей вспомогательной поверхности. [30]

Страницы: 1 2 3 4