Cтраница 4
В первую очередь необходимо избавиться от влияния рассеянного света. Это достигается уменьшением отверстия ирисовой диафрагмы коллекторной линзы, применением коррекционных светофильтров и в исключительных случаях уменьшением отверстия апертурной диафрагмы. [46]
Съемка ведется в отраженных объектом лучах света. Источник света применяется повышенной мощности. На рис. 87, а показана схема фокусировки коллекторной линзы. Однако при таком освещении в плоскости объекта будет передана структура тела накала лампы, которая может затруднить проработку поверхностного строения объекта. Для устранения этого нежелательного явления применяются дуговые или точечные лампы. [47]
Кроме того, между источником света и конденсором располагаются светофильтры, рассеивающие стекла, охладители. Поэтому вместо материального источника света используется его изображение, которое и отбрасывается коллекторной линзой в плоскость ирисовой диафрагмы конденсора. [48]