Объективная линза
Cтраница 4
Образец, который исследуется на просвет, помещается вблизи входа в канал наконечника объективной линзы. Увеличенное изображение / ь сформированное объективом, называется первым промежуточным изображением. [46]
S-точечный источник света; 9 - конденсорная линза; 10-регулируемые щели; /; объективная линза; 12-микроскоп; 13 - фотоаппарат. [47]
Если интерференции дифрагированных пучков с прошедшим пучком или между собой препятствует ограничение, накладываемое апертурой объективной линзы, или если при данных условиях эксперимента разрешение микроскопа недостаточное, изменение интенсивности прошедшего пучка на светлопольном изображении будет зависеть от положения. На темнопольных изображениях, полученных от отдельных дифрагированных пучков, от положения будет зависеть изменение интенсивности-дифрагирован-ных пучков. Совершенные плоскопараллельные кристаллы ( однородной толщины) не будут давать контраста, однако любой дефект, изгиб или изменение толщины кристалла могут привести к его возникновению. [48]
При исследовании в темном поле применяют так назы ваемые эпиобъективы, имеющие вокруг оправы с объективными линзами параболическое зеркало, на которое падают только краевые лучи от источника света. [49]
Однако общее количество рассеянных электронов, проходящих через разные участки объекта, в общем одинаково, и если объективная линза соберет и сфокусирует все электроны, то никакой контрастности изображения не будет. [50]
Благодаря тому что в конструкции электронного микроскопа имеются промежуточная линза и специальная селекторная диафрагма, расположенная в плоскости изображения объективной линзы, можно получать микродифракционные картины от участка, выделяемого этой диафрагмой. В результате на конечном экране с помощью проекционной линзы фиксируется дифракционная картина от выбранного селекторной диафрагмой участка объекта. Величина участка, выделяемого для микродифракции, определяется размером селекторной диафрагмы, деленным на увеличение объективной линзы. Уменьшение величины участка ограничено снижением яркости изображения дифракционной картины и величиной несоответствия между участком объекта, от которого-эта картина получена, и участком, вырезаемым селекторной диафрагмой. Тем не менее даже при выполнении этих условий из-за сферической аберрации объективной линзы указанное несоответствие все же может достигать десятых долей микрометра. [51]
 |
Схема пульта управления электронного микроскопа УЭМВ-100В. / - тумблер. 2 - реостат. 3 -переключатель. 4 - лампа. [52] |
На правом пульте расположены ручки включения и управления ускоряющего напряжения, тока накала и потенциала смещения в пушке, токов объективной линзы, первой конденсорной линзы, стигматора объектива, прибор для измерения тока в цепи высокого напряжения. [53]
Влияние условий измерений интенсивности на природу функции поглощения, вероятно, наиболее существенно в электронной микроскопии кристаллов, где апертура объективной линзы приводит к сочетанию прямого пучка с неупруго и упруго рассеянными пучками как в брэгговских отражениях, так и в диффузном фоне. При этом на указанные компоненты изображения аберрации линзы влияют различным образом. Этот случай будет рассмотрен в следующей главе. [54]
Особенно это важно при исследовании ферромагнитных материалов, поскольку собственное магнитное поле образца - фольги - влияет на магнитное поле объективной линзы, и ее юстировку приходится проводить при каждом изменении положения данного образца в процессе наблюдения в микроскопе. [55]
Эмитированные катодом электроны ускоряются и формируются в пучок, проходящий через диафрагму 4, конденсорные линзы 5 и б к объективную линзу 9, которые существенно уменьшают изображение источника электронов, фокусируя его на поверхности образца. [56]
Главной частью микроскопа является колонна, в которои размещены осветительная система, состоящая из электронной пушки и конденсорной линзы, столик объекта и объективная линза, проекционная линза и камера с приспособлением для визуального наблюдения изображения на экране и фотографирования. В нижней части расположены насосы; схема питания собрана в отдельном шкафу и на рисунке не показана. [57]
Этот метод состоит в том, что исследуемый объект рассматривается в оптическом микроскопе в проходящем или отраженном свете, и в плоскости изображения объективной линзы микроскопа формируется увеличенное изображение предмета. [58]
Страницы: 1 2 3 4