Электромагнитная линза

Cтраница 4

Они состоят из облучателей и электромагнитных линз. Действие электромагнитных линз основано на том, что на пути распространения радиоволн создаются устройства, изменяющие их фазу и обеспечивающие тем самым получение поверхности, от которой волны отходят в одинаковых фазах и идут параллельно друг другу. [46]

Электронно-оптическая система, управление объектом и вакуумная система оформлены в виде отдельной составной части. Электронно-оптическая система состоит из электромагнитных линз н механизма юстировки электронного луча относительно оси системы. С помощью электроразрядного насоса достигается вакуум менее 10 - 3 Па. [47]

Схема прямого электронно-лучевого испарения из одного источника. [48]

В настоящее время получили распространение два типа электронно-лучевых пушек для испарения материалов: аксиальные, формирующие осесимметричный пучок электронов; плосколучевые, преобразующие первоначальный плоский пучок электронов в цилиндрический. Аксиальные пушки обычно имеют две независимые электромагнитные линзы для фокусировки луча и управления им. Катод в аксиальных пушках выполнен в виде массивной шайбы из вольфрама или тантала и имеет косвенный нагрев. В плосколучевых пушках прямолинейный катод из вольфрамовой проволоки нагревают прямым пропусканием тока. [49]

Органические вещества значительно слабее рассеивают электроны, вследствие чего заметный контраст получается при сравнительно больших толщинах. Однако при таких толщинах хроматическая аберрация электромагнитных линз микроскопа понижает разрешающую способность. [50]

Электронные лучи ( электроны), проходя через рассматриваемый препарат, подвергаются рассеиванию, величина которого зависит от толщины и свойств участков препарата. Затем пучок электронов, пройдя через фокусирующие электромагнитные линзы, попадает на светочувствительный слой фотопластинки, на которой производится фотографирование изображения. [51]

Под действием электрического поля электроны, излучаемые нагретым катодом, устремляются к свариваемым деталям. Для получения луча электроны проходят через фокусирующую электромагнитную линзу. Перемещение электронного пучка поперек линии шва обеспечивается при помощи особой отклоняющей системы. [52]

Анод представляет собой пластинку с отверстием по середине. Электроны проходят в это отверстие и через расположенную дальше электромагнитную линзу ( конденсор), концентрирующую поток электронов, а затем через прозрачный предмет, подлежащий увеличению. Отдельные участки предмета, в зависимости от строения, могут дать различное рассеяние электронных лучей. [53]

На рис. 7 - 7 представлен разрез колонны электронного микроскопа третьей группы ЭМ-9, разработанного ГОИ. Оптика микроскопа состоит из длиннофокусной электронной пушки и двух электромагнитных линз. Микроскоп позволяет проводить визуальное наблюдение объекта в проходящих лучах, а также фотографировать изображение. Смена объектов производится с помощью вакуумного шлюза без нарушения вакуума в колонне микроскопа. Электронные микроскопы ЭМ-9 изготавливаются Красногорским механическим заводом. [54]

Это связано с возможностью легко и быстро менять фокусные расстояния электромагнитных линз. [55]

Обработка металлов электронным лучом осуществляется в вакууме на установках, позволяющих создавать концентрированный поток электронов по направлению к обрабатываемой заготовке. Направление потока электронов корректируется электромагнитными катушками и собирается в фокус электромагнитной линзой. Рабочая температура при этом достигает 6000 С, что приводит к испарению металла, образуя в заготовке отверстие диаметром 0 001 мм или прорезь шириной до 0 04 мм с ровными краями. Метод позволяет обрабатывать разнообразные материалы с высокой степенью точности. [56]

Работа прибора в режиме теневого микроскопа имеет вспомогательное значение. Режим работы электронографа изменяют увеличением или уменьшением силы тока в фокусирующих электромагнитных линзах. [57]

Универсальный электронный микроскоп УЭМ-100. [58]

Это приводит, как следует из формулы (16.1), к возможности получения гораздо большего по сравнению с оптическим микроскопом разрешения, достигающего в пределе нескольких ангстрем. Практически, однако, этот теоретический предел разрешения вследствие различного рода аберраций электромагнитных линз и нестабильности питающего тока не достигается. Разрешение электронных микроскопов промышленного изготовления обычно составляет около 10 А. [59]

Кривые спектральной увствительности эмульсий Инфра -. ром ( 760, 840, 880 и аэропленки (. одак. [60]

Страницы: 1 2 3 4 5