Cтраница 2
![]() |
Фотоэлектроколориметр ФЭК-М. [16] |
У - конденсорные линзы; 3, 3 - тепловые фильтры; , 4 - зеркала; 5, 5 - светофильтры; б, 6 и 8, 8 - линзы; 7, Т - кюветы; 9, У - поворотные призмы; 10, 10 - фотоэлементы; / / - щелевая ( ножевая) диафрагма; 12 - нейтральный клин большой плотности; 13 - нейтральный клин малой плотности; 14 - гальванометр. [17]
Фокусное расстояние конденсорной линзы, вообще говоря, зависит от длины волны. Для видимого света различие в фокусных расстояниях невелико и при установке конденсора может не учитываться. Для УФ-области спектра подобный учет необходим при использовании неахроматических кварцевых конденсоров. [18]
В качестве конденсорной линзы, а также линз собственно микроскопа ( объективной и проекционных) чаще всего применяют электромагнитные электронные линзы. Электромагнитная линза представляет собой соленоид, заключенный в железный панцирь. Панцирь имеет так называемый воздушный зазор внутри соленоида, где и создается сильное магнитное поле определенной конфигурации. Такую конструкцию имеет также промежуточная линза 5, входящая в проекционную систему микроскопа. Эти линзы являются слабыми. [19]
После включения конденсорной линзы реостатом 11 производят регулировку накала нити катода. При нормальном накале нити катода на флюоресцирующем экране микроскопа наблюдается яркое крупное пятно. [20]
С помощью конденсорной линзы этот источник света отображается во входную апертуру линзы, позади которой установлен транспарант с записью набора из N эталонных одномерных сигналов. Линза формирует изображение транспаранта в выходной плоскости коррелятора. [21]
![]() |
Спектральное пропускание пластинки из хлористого калия толщиной 12 мм. [22] |
Применяется для конденсорных линз ультрафиолетовых микроскопов, призм и окошек спектральных приборов для инфракрасной области. [23]
Такой подбор конденсорной линзы второго монохроматора, чтобы входная щель при ее полной рабочей ширине и коллиматор второго монохроматора были заполнены светом флуоресценции образца. [24]
![]() |
Внешний вид электронного микроокопа ЭМ-8. [25] |
В электростатических микроскопах конденсорная линза отсутствует, а в электромагнитных микроскопах с высокой разрешающей способностью применяют двойную конденсорную линзу. [26]
При изменении тока конденсорной линзы пятно приобретает эллипсоидальную форму и на экране последовательно наблюдаются эллипсообразные развертки электронного луча с перпендикулярными друг другу осями. Ручками 12 центр развертки эллипсов выводят в центр экрана. Затем, изменяя ток конденсорной линзы, вновь формируют на экране яркое пятно, которое в случае плохой юстировки имеет форму кометы. После этого на экране вновь наблюдаются эллипсообразные развертки электронного пучка. Критерием правильности юстировки служит совершенно симметричный характер развертки обоих эллипсов относительно центра экрана. [27]
Чтобы определить положение конденсорной линзы Лг, учтем, что наименьший размер светящегося тела накала равен 0 6 мм. [28]
![]() |
Спектр железной руды, полученный со ступенчатым сектором. [29] |
Вблизи щели помещают конденсорную линзу, так что когда щель широко открыта, видно сфокусированное отражение дуги на коллиматоре спектрографа. Дугу располагают так, чтобы ввести катод как раз в коллиматор, и фокальная длина конденсорных линз такова, что коллиматор заполняется примерно одной третью дугового разряда. [30]