Cтраница 1
Линии аналитических пар обычно выбирают эмпирически. [1]
Однако интенсивности линий аналитических пар определяются не только относительными концентрациями, но и всеми физическими и химическими процессами, происходящими в аналитическом источнике света во время возбуждения. Эти процессы обусловливают условия испарения пробы и возбуждения образующихся паров, оказывают большое влияние на форму аналитической кривой, на чувствительность, правильность и точность анализа. Все факторы, определяющие процессы в аналитическом источнике света, обобщенно называют условиями возбуждения. [2]
Для этого фотометрируют линии аналитических пар и указанных линий железа на основной пластинке и те же линии на пластинке с анализируемыми образцами. [3]
Требование близости энергий возбуждения линий аналитических пар очевидно ( разд. Однако различие в контурах линий х и г не играет особой роли в спектрометрии ( разд. [4]
Измеряют почернения Sx и Sr линий аналитических пар х, г в спектрах, подлежащих оценке. [5]
Требования, предъявляемые при выборе линий аналитических пар ( разд. [6]
Перед фотографированием спектров эталонов и анализируемых образцов необходимо каждый раз в течение 10 с производить предварительный обжит электродов с тем, чтобы стабилизировалось соотношение интенсивностей линий аналитических пар. [7]
Точность построения графика зависит от числа эталонов и кратности съемки. Необходимо, чтобы почернения линий аналитических пар для всех концентраций лежали в области нор / маль-ных почернений. [8]
При проведении количественного спектрального анализа получают в одинаковых условиях спектры паров проб и эталонов с известным содержанием определяемых элементов. После измерения в спектрах паров эталонов интенсивностей линий аналитических пар строят градуировочный график зависимости относительной интенсивности спектральных линий от концентрации определяемого элемента. По градуировочно-му графику определяют содержание элемента в пробах по относительным интенсивностям спектральных линий в их спектрах. [9]
В последующих главах будет дано описание устройств, разлагающих свет в спектр. По существу разложение света в спектр необходимо для того, чтобы отделить излучение, соответствующее линиям аналитических пар, от постороннего излучения и подвести его к фотоумножителям. Эта цель достигается отделением спектральной линии от соседних с помощью выходной щели. Очевидно, что эту выходную щель следует помещать в фокальную поверхность, в которой образуется спектр. [10]
В фотографических методах спектры анализируемых и стандартных образцов снимают на фотографическую пластинку. После ее проявления, фиксирования, промывания и высушивания с помощью специальных приборов - денситометров или микрофотометров - определяют оптические плотности почернения линий аналитических пар. По результатам фотометрирова-ния строят градуировочные графики в системе разность оптических плотностей почернения аналитической пары - логарифм концентрации и по ним определяют содержание элементов в анализируемых образцах. [11]
Для повышения точности определения целесообразно проводить трехкратную съемку спектрограмм эталонов и анализируемых образцов, а для построения градуировочных графиков применять не менее трех стандартных эталонов. Проявленную, отфиксиро-ванную и высушенную пластинку со спектрограммами эталонов и образцов фотометрируют с помощью денситометра или микрофотометра, измеряя оптическую плотность почернения линий аналитических пар определяемых элементов. Спектрограмму устанавливают эмульсией вверх на предметном столике микрофотометра МФ-2 ( рис. 30.17) так, чтобы на экране прибора деления шкалы читались слева направо. [12]
В описанной выше методике специальное фотоэлектрическое устройство было применено только в качестве индикатора нуля. В более поздних экспериментах [12] такое устройство с одним или двумя измерительными каналами было использовано для прямого электронного измерения интенсивности линий или отношения интенсивностей линий аналитических пар. В противоположность прежним способам в этом последнем способе амплитуды осциллограмм линий пропорциональны не мгновенным значениям интенсивностей линий, а их интегральным величинам за определенное время экспозиции. [13]
Сущность метода трех эталонов заключается в том, что для проведения анализа на одну пластинку фотографируют спектрограммы стандартных и анализируемых образцов. По результатам фотометрирования линий аналитических пар этих образцов строят градуировочный график в системе AS - lg С. График пригоден для анализа только тех образцов, которые сняты на этой же пластинке. [14]
Задачей фотоэлектрических измерений является измерение интенсивностей линий аналитических пар по величине электрического сигнала, получаемого от фотоэлектрического приемника. Современные радиотехнические средства позволяют создавать также схемы, которые на своем выходе дают конечный результат либо в виде графической, либо напечатанной цифровой записи. [15]