Линия - рентгенограмма
Cтраница 2
 |
Определение интенсивности линий рентгенограммы по фотометрическим. [16] |
Рассчитать относительную интенсивность линий рентгенограммы кристалла элемента ( Си, Ni, a - Fe, Mo, Si, Ge -), снятой в излучении. [17]
Выше отмечалось, что линии рентгенограммы закаленной стали сильно размыты. При о тпуске стали ширина линий постепенно уменьшается, стремясь к некоторой постоянной величине, определяемой условиями эксперимента и состоянием кристаллов а-фазы. Зависимость ширины линий В от температуры отпуска может быть построена по экспериментальным данным. Для этой цели необходимо приготовить серию образцов одной и той же стали, закалить и подвергнуть их отпуску при различных температурах. [18]
Согласно данным работы [193], линии рентгенограммы Sc2S3 по интенсивности резко делились на две категории: очень сильные и слабые. [19]
Определения величины кристаллов по ширине линий рентгенограммы опираются на различные математические зависимости. [20]
Эти напряжения, определяемые по интенсивности линий рентгенограмм, изучены еще недостаточно. [21]
Глубину распространения процесса рекристаллизации оценивали по виду линий рентгенограмм, полученных после стравливания с образца тонких поверхностных слоев. [22]
 |
Схема использования логарифмической линейки для вычисления HK. L и а. [23] |
Здесь а - постоянная величина для всех линий данной рентгенограммы, Q и d различны для разных линий. [24]
 |
Схема получения рентгенограммы поликристалла в цилиндрической камере ( слева.| Квадратичные формы. [25] |
Операция определения индексов ( HKL) для каждой линии рентгенограммы называется индицированием рентгенограммы. Эта важная в структурном анализе операция производится при расшифровке неизвестных структур, при выявлении фазового состава многофазных систем, а также при определении размеров элементарной ячейки. [26]
Однако было показано [54, 55], что не все линии рентгенограммы можно интерпретировать в термах такой ячейки и что имеются слабые сверхструктурные линии, требующие учетверения ребра ячейки. [27]
Приводят только к ослаблени интенсивности рефлексов, яе расширяя линий рентгенограмм Другие виды нарушения порядка, как, например, заметные IICK жения пространственной решетки, могут вызвать расширение л ний, аналогичное влиянию уменьшения размеров кристаллите Поэтому для некоторых образцов Трудно однозначно определи Причину увеличения ширины линий и уменьшения числа рефлекс: на рентгенограмме. В таких сложных случаях наряду с рентгеио скнм применяются другие методы исследования. [28]
Начало рекристаллизации устанавливалось рентгенографически по появлению четких уколов на линиях рентгенограммы. [29]
При сопоставлении рентгенограммы с эталонными карточками следует учитывать все те линии рентгенограммы, относительные интенсивности которых приблизительно соответствуют относительным интенсив-ностям опорных отражений от эталона. [30]
Страницы: 1 2 3 4