Ложная линия
Cтраница 3
Мы видим, что линейная дисперсия, даваемая решеткой, тем больше, чем больше радиус кривизны. В практике спектрального анализа редко используются решетки с радиусом больше трех метров. Роуланд открыл, что наряду с истинными линиями в спектре решетки всегда наблюдаются ложные линии, получившие название духов Роуланда. Их появление связано с периодической ошибкой делительной машины, нарезавшей решетку. Духи симметрично располагаются по обе стороны от всех сильных спектральных линий. [31]
Духи Вуда появляются рядом с истинной линией и очень похожи на тонкую структуру, линии. Причина их появления заключается в непериодических ошибках, вызываемых изменением трения в делительных машинах. Дефектную часть решетки в спектральном приборе легко обнаружить, заэкранировав изображение истинной линии острием ножа и рассматривая поверхность решетки, совместив зрачок глаза с изображением ложной линии. В современных решетках духи Вуда также ликвидированы. [32]
Ложные линии Роуланда возникают в результате периодических ошибок в постоянной решетке. Они лежат возле истинных и расположены относительно их симметрично. Интенсивность ложных линий в хороших решетках не превышает 0 01 от интенсивности истинной линии в первом порядке. Относительная их интенсивность растет примерно пропорционально квадрату порядка истинной линии. Ложные линии Роуланда спутать с истинными, вообще говоря, довольно трудно, однако они могут маскировать собой истинные линии других длин волн, которые расположены вблизи данной истинной линии. [33]
Вместе с тем они становятся совершенно закономерными, если считать причиной их появления блочную структуру изогнутого в спектрографе кристалла. При различном положении системы взаимно дезориентированных блоков изогнутого кристалла по отношению к падающему на них расходящемуся пучку рентгеновских лучей они будут оказываться расположенными, под различными углами по отношению к этим лучам. В связи с этим должна изменяться и роль каждого из блоков в процессе отражения рентгеновской радиации, а значит и тонкая структура рефлекса на спектрограмме, расположенной в фокальной плоскости спектрографа. При вариации угла падения рентгеновских лучей на кристалл, ввиду ограниченности ширины пучка лучей, меняется действующая область кристалла. Это значит, например, что отдельные блоки, при отражении от которых появляется часть ложных линий, оказываются при некоторых значениях угла падения пучка освещенными под углами, отличными от угла Брегга - Вульфа, что приводит к исчезновению соответствующих ложных линий. [34]
Брэгга - Вульфа, может быть получен рентг. А, 2d ( где d - межплоскостное рассто 1 ние; применяемые в рентг. С 2 6 нм); при X 2 6 нм могут быть использованы многослойные микроструктуры, к-рые, однако, обеспечивают лишь сравнительно незначит. Такие решетки обычно изготовляют нарезанием штрихов про-филиров. Резец передвигается от штриха к штриху с помощью прецизионных винтов, что неизбежно накладывает на решетку дополнит, периодич ность, в результате чего в спектре появляются ложные линии, называемые духами. Этого недостатка избегают решетки, изготовленные литографич. [35]
Вместе с тем они становятся совершенно закономерными, если считать причиной их появления блочную структуру изогнутого в спектрографе кристалла. При различном положении системы взаимно дезориентированных блоков изогнутого кристалла по отношению к падающему на них расходящемуся пучку рентгеновских лучей они будут оказываться расположенными, под различными углами по отношению к этим лучам. В связи с этим должна изменяться и роль каждого из блоков в процессе отражения рентгеновской радиации, а значит и тонкая структура рефлекса на спектрограмме, расположенной в фокальной плоскости спектрографа. При вариации угла падения рентгеновских лучей на кристалл, ввиду ограниченности ширины пучка лучей, меняется действующая область кристалла. Это значит, например, что отдельные блоки, при отражении от которых появляется часть ложных линий, оказываются при некоторых значениях угла падения пучка освещенными под углами, отличными от угла Брегга - Вульфа, что приводит к исчезновению соответствующих ложных линий. [36]
 |
Угловая дисперсия призм и дифракционных решеток. а - в видимой и ультрафиолетовой областях. б - в инфракрасной области. [37] |
Дифракционные решетки обладают и некоторыми недостатками. Призма дает только один спектр, а решетка - много налагающихся друг на друга спектров различных порядков, и для разделения этих спектров необходимо применение или светофильтров, или дополнительных диспергирующих элементов. Все это снижает пропускание приборов с решетками. Коэффициенты пропускания призменных и дифракционных приборов всреднем примерно одинаковы, но в области прозрачности призмы ее пропускание практически постоянно, тогда как у решетки в пределах спектра одного порядка коэффициент отражения может изменяться более, чем вдвое. Далее диапазон длин волн эффективного использования решетки при работе в одном порядке дифракционного спектра всегда невелик: только в первом порядке он может превышать одну октаву. Наличие в дифракционном спектре ложных линий ( духов) может ввести в заблуждение при анализе мало исследованных спектров. Поэтому применение дифракционных решеток требует всегда более сложной техники эксперимента. [38]
Существует два способа передачи данных из буферного регистра в регистр ключей ЦАП: принудительный, когда состояние запоминающих элементов регистра изменяется только с изменением входных данных, и способ очистки запоминающего регистра с последующей загрузкой нового слова. Последний способ может приводить к всплескам на выходе ЦАП, поскольку очистка регистра приводит к снижению напряжения на выходе ЦАП до нуля на время, пока новые данные не поступают в регистр. Величина этих всплесков зависит от переходной характеристики декодирующей схемы, полосы пропускания буферного усилителя и интервала времени между поступлением сигнала сброса и передачей данных. АСУ ТП обычно используют буферный усилитель, а быстродействие ЦАП не бывает очень высоким. Однако если ЦАП работает па быстродействующий графический дисплей, например осциллограф, то нельзя ограничивать полосу пропускания буфера и проблема всплесков должна быть принята во внимание. Если этого не сделать, всплески могут вызвать появление на экране дисплея ложных линий и полос. [39]
Страницы: 1 2 3