Сплошная пунктирная линия

Cтраница 3

При этом, приняты следующие обозначения: пунктирные кривые - шлифованные стеклянные поверхности; пунктир с точкой - Шлифованные металлические поверхности; сплошные кривые - металлические точеные поверхности. Вертикальные сплошные и пунктирные линии указывают на размах колебаний стрелки прибора при измерениях. [31]

Три линии на этой диаграмме ( Л С, АЕи GS) являются общими. Остальные сплошные и пунктирные линии не совпадают, прежде всего потому что при всех температурах предел растворимости графита гв железе меньше, чем цементита. Поэтому эвтектическая и звтектоидная температура у системы железо - графит выше, чем у системы железо - цементит. [32]

Зависимость коэффициента продольного перемешивания. [33]

В работе [41] определяли коэффициент продольного перемешивания Е импульсным методом для однофазного ( вода) и двухфазного ( керосин - вода) потоков при различных интен-сивностях перемешивания, производительностях и геометрических размерах РДЭ. Сплошными и пунктирными линиями показаны зависимости для диаметров экстрактора 56 и 100 мм соответственно. [34]

На рис, 104 представлены некоторые результаты, полученные Гроссом. Сплошными и пунктирными линиями обозначены солевые эффекты соответственно для ацетона и синильной кислоты. Для азотнокислых цезия и калия, хлористого натрия и сернокислых магния и лантана наблюдается любопытное обращение солевого эффекта. В этих растворах ацетон высаливается, а синильная кислота всаливается. [35]

На рис. 104 представлены некоторые результаты, полученные Гроссом. Сплошными и пунктирными линиями обозначены солевые эффекты соответственно для ацетона и синильной кислоты. В этих растворах ацетон высаливается, а синильная кислота всаливается. [36]

Сплошные линии на этой диаграмме ( АС, АЕ, GS и др.) являются общими. Несовпадающие сплошные и пунктирные линии указывают, что при всех температурах пределы растворимости графита в железе меньше, чем цементита. [37]

Так, сплошные и пунктирные линии на рис. 1 рассчитаны теоретически для двух различных фонов, а точками нанесены значения а, полученные из ширины пиков на С-ф-кривых ( после введения поправок на неравновесность и на зависимость а от рН раствора), а также по форме адсорбционной изотермы при потенциале максимальной адсорбции. Как было показано в [2], С - ф - и а-ф-кривые, рассчитанные по обобщенной модели поверхностного слоя и по модели двух параллельных конденсаторов е учетом произвольной зависимости а от ф, практически Совпадают. Поэтому для всех кислот расчет С - ф - и а-ф-кривых выполнялся более простым вторым методом, подробно описанным в гл. Хорошее согласие между расчетом и опытом наблюдалось во всех исследованных системах и иллюстрируется рис. 2 на примере н-валериановой кислоты. [38]

Как было установлено в § 1, эти выносы не обеспечивают отсутствия изгибающих моментов. Из сопоставления сплошных и пунктирных линий можно сделать заключение, как нужно изменить выносы для того, чтобы лопатка стала безмоментной. На той же фигуре построена эпюра нормальных напряжений в сечениях по длине лопатки. [39]

Тетраэдрическая модель L - ( - - глицеринового альде -. гида.| Тетраэдрическая модель В - ( - глицеринового альдегида. Согните и склейте, как и. [40]

Для изготовления модели скопируйте рисунок на плотную бумагу или картон, вырежьте по утолщенным линиям. Модель согните по сплошным и пунктирным линиям, как указано на рисунке. [41]

Установим связь между перемещениями и деформациями. На рис. 5.5 сплошными и пунктирными линиями показаны соответственно проекции элементарного параллелепипеда на плоскость Оху в недеформированном и деформированном состояниях. [42]

В этом случае структуры А на рис. 2 - 8 могут вносить относительно большой вклад. Различие между связями, обозначенными сплошными и пунктирными линиями на рис. 2 - 8, несколько условно, однако пунктирные линии длиннее и изображают более слабые связи, которые могут быть даже формальными, если перекрывание орбиталей становится незначительным. Если диено-фил содержит больше одной двойной связи, то увеличивается число структур, описывающих переходное состояние, и можно провести больше одной пунктирной линии, связывающей реагенты. Аналогичная ситуация [224] существует и в переходном состоянии реакции димеризации бутадиена с образованием винилциклогексена. Таким образом, принятый здесь формализм вовсе не означает, что две новые связи между атомами 1, 4 диена и 5, б диенофила имеют одинаковую прочность. [43]

Пути ионов двух изотопов с малоразличающимися массами в электромагнитном сепараторе. [44]

Посмотрим теперь, какое влияние на остроту фокуса оказывает пространственный заряд. На рис. 49 воспроизведены сплошными и пунктирными линиями пути ионов с мало различающимися массами в поперечном однородном магнитном поле. Для упрощения расчетов мы предположим, что протяжение ионных пучков в направлении, перпендикулярном к плоскости чертежа, очень велико. Если полная сила ионного тока на единицу длины перпендикулярно к плоскости чертежа равна /, то количество электричества, приходящееся на единицу длины перпендикулярно к плоскости чертежа, будет, очевидно, J / v, где v - скорость ионов. Создаваемый таким путем пространственный заряд в свою очередь действует на ионы. [45]

Страницы: 1 2 3 4